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西安工业大学2项科研成果获2021年度陕西省科学技术奖
发布时间: 2022-05-05 来源:陕西省光学学会 浏览次数:1250

www.xatu.edu.cn 本网讯)近日,陕西省人民政府颁布《关于2021年度陕西省科学技术奖励的决定》(陕政字〔2022〕21号),根据相关文件精神,我校作为牵头单位主持完成2项科技成果获奖,其中刘卫国教授团队主持完成的科研成果(专用项目)获陕西省科学技术进步奖一等奖,梁海峰教授团队主持完成的科研成果“光学透镜核心参数检测方法及关键技术”获陕西省技术发明奖二等奖。



本次我校获得陕西省科学技术进步奖一等奖,是学校近几年在省部级科技奖励上的又一次突破。近年来,学校高度重视高层次奖项的培育、申报和管理,不断加强顶层设计,挖掘科研成果奖励申报的增长点,为学校学科建设、人才建设、学校综合实力等方面提供强有力的科技支撑,也为今后申报国家级奖项奠定了坚实基础。下一步,学校将继续聚焦学科前沿、强化基础研究和应用研究,加强技术创新和成果转化,注重大平台、大团队、大项目、大成果的整体规划和密切关联,努力产出具有重大基础理论的科技成果和重大应用前景的科技成果。


2021年度共有260项科学技术成果获得陕西省科学技术奖,其中一等奖48项、二等奖115项、三等奖97项。



光学透镜核心参数检测方法及关键技术”简介:


完成人:梁海锋,李世杰,陈强,马卫红,蔡长龙,刘缠牢


完成单位:西安工业大学,中国科学院光电技术研究所


成果简介:


常用的透射类光学元件(光学透镜)的评价参数包括中心偏、中心厚和面形,传统的车间检测方法对这些参数的检测精度低,且均为接触测量,远远不能适应现代高精度光学系统的要求。针对光学元件的三个核心参数的非接触、高精度、高效率现场检测的技术难题,项目组在国家项目、省部级项目、企业需求项目的牵引下,开展非接触检测技术的深入研究和检测设备的研发,大幅度提高检测精度;同时极大提高了检测效率、适应各类软质材料、减低人为判断误差。发明基于白光光谱扫描的光学元件中心厚度非接触测量技术,研发了中心厚度测试测量设备,解决了中心厚度测量过程中主观误差显著、效率低、易划伤表面的难题。发明了基于高精度位置探测的非接触光学元件中心偏测试技术,研发了中心偏实时监测和测试设备,解决了光学元件定心磨边过程中的挤压定心精度不可控,且易划伤元件表面的技术难题。发明了基于计算全息图的非球面面形检测技术,开发了面形高精度测试装置与平台,解决了光学非球面面形检测中的计算全息图制造误差和检测系统中的对准误差难以标定的技术瓶颈。开发出商品化的中心厚、中心偏、面形测量设备,广泛应用并批量装备到企业,具有自主知识产权。